本报讯 叠层成像是一种结合扫描透射电镜和相干衍射成像的计算成像方法，能够大幅提高像差校正电镜的空间分辨率，进入深亚埃分辨。但是，现有的叠层成像方法对晶带轴偏离非常敏感，需要苛刻的实验条件。
　　近日，清华大学材料学院于荣教授课题组提出并实现的“自适应传播因子叠层成像方法”，成功地消除了晶带轴偏离对空间分辨率和测量精度的影响，获得了中国发明专利授权和软件著作权。该方法解决了原子分辨成像中的晶带轴偏离问题，清除了高分辨成像和高精度测量在实验方面的主要障碍。
　　相关研究成果以“基于取向校正电子叠层成像方法的深亚埃分辨成像”为题发表在学术期刊《科学·进展》（Science Advances）期刊上。于荣为该文的通讯作者，清华大学材料学院2018级博士生沙浩治和2019级博士生崔吉哲为共同第一作者。 （材料学院）